半導體瞬態熱阻測試儀(T3Ster)
廠家：Mentor Graphics
產地：匈牙利
符合標準：滿足JEDEC的結殼熱阻（θjc）測試標準（JESD51-14）、測試方法符合 IEC 60747系列標準、滿足 LED 的國際標準 JESD51-51，以及LED 光熱一體化的測試標準 JESD51-52、測試方法符合 MIL-STD-883H method 1012.1 和 MIL-750E 3100 系列的要求
應用：
1、各種三極管、二極管等半導體分立器件，包括：常見的半導體閘流管、雙極型晶體管、以及大功率 IGBT、MOSFET、LED 等器件；
2、各種復雜的 IC以及 MCM、SIP、SoC 等新型結構 ；
3、各種復雜的散熱模組的熱特性測試，如熱管、風扇等。
T3Ster-----the Thermal Transient Tester：熱瞬態測試儀，是世界領先的半導體熱特性熱測 試儀，可用于測試半導體分立器件及模塊的結溫、穩態熱阻、瞬態熱阻，同時可用于測試IC、SoC、SIP、 散熱器、熱管等的熱特性。
? T3Ster兼具JESD51-1定義的靜態測試法（Static Mode）與動態測試法（Dynamic Mode），能夠實時采集器件 瞬態溫度響應曲線（包括升溫曲線與降溫曲線），瞬態采樣時間分辨率高達1微秒，測試延遲時間高達1微 秒，結溫分辨率高達0.006℃。
?T3Ster既能測試穩態熱阻，也能測試瞬態熱阻抗，并且能夠獲得器件的脈沖熱阻。
?T3Ster的研發者 MicRed是J EDEC最新的結殼熱阻（θjc）測試標準（JESD51-14）的制定者，T3Ster的測試 方法完全符合該標準，可以通過兩種方法計算結殼熱阻。
? T3Ster的測試方法符合IEC 60747系列標準。
? T3Ster的研發者MicRed制定了全球第一個用于測試LED的國際標準JESD51-51，以及LED光熱一體化的測 試標準JESD51-52。T3Ster和TeraLED是目前全球唯一滿足此標準所規定的光熱一體化測試要求的設備。
? T3Ster的測試方法符合MIL-STD-883H method 1012.1和MIL-750E 3100系列的要求。
? T3Ster獨創的Structure Function(結構函數)分析法，能夠分析器件熱傳導路徑上每層結構的熱學性能（熱 阻和熱容參數），構建器件等效熱學模型，是器件封裝工藝、可靠性試驗、材料熱特性以及接觸熱阻的強 大支持工具。因此被譽為熱測試中的“X 射線”。
? T3Ster能與FloTHERM、FloTHERMxt以及FloEFD等熱仿真軟件協同工作，包括： 1）、將待測器件的RC網絡模型直接輸出給熱仿真軟件進行仿真工作； 2）、將待測器件的結構函數直接輸出給熱仿真軟件，利用熱仿真軟件的自動優化功能對待測器件的詳 細熱學模型進行校準。
